MICROTRAC微粒標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)BCR70 400326-001固定探測(cè)器-南京惠言達(dá)電氣有限公司

產(chǎn)品搜索

PRODUCT SEARCH

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

您現(xiàn)在的位置：首頁 >> 技術(shù)文章 >> MICROTRAC微粒標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)BCR70 400326-001固定探測(cè)器

MICROTRAC微粒標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)BCR70 400326-001固定探測(cè)器

瀏覽次數(shù)：412發(fā)布日期：2024-01-29

美國(guó)麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上好的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，其先進(jìn)的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)的質(zhì)量檢測(cè)和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術(shù)創(chuàng)新，近半個(gè)世紀(jì)以來，一直領(lǐng)頭著激光粒度分析的前沿技術(shù)，可靠的產(chǎn)品和強(qiáng)大的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，使得其不斷超越自我，推陳出新。麥奇克Microtrac以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見解，經(jīng)過多年的市場(chǎng)調(diào)研和潛心研究，開發(fā)出新一代Zetatrac微電場(chǎng)分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測(cè)量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Zetatrac采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場(chǎng)，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量迅速，無需準(zhǔn)確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場(chǎng)，無需更換分別用于測(cè)量粒度和Zeta電位的樣品池，消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號(hào)的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。

主要產(chǎn)品：

激光粒度分析儀、電位分析儀、噴霧粒度分析儀、動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析儀

主要型號(hào)：

S3500、BELSORP MAX X、BELSORP MAX G、BELSORP MINI X、BELSORP MR 1、BELPREP VAC、BELCAT II、BELMASS II、BELPYCNO L、BELSOR HP、BELPORE系列、CAMSIZER 3D、CAMSIZER X2、CAMSIZAR XL、SYNC、AEROTRAC II、NANOTRAC FLEX、STABINO ZETA